Inovativní technologie záznamu a klonování průběhu
Inovativní technologie záznamu a klonování křivek OWON, jádrem její technologie jsou záznamy křivek. Nahrávání křivek ve složitých a nebezpečných prostředích pro usnadnění následného zpracování, takže můžete kdykoli zvládnout klíčové shlukové křivky a nahrávky.
Nakonfigurovaný multimetr lze použít jako záznamník dlouhodobého vzorkování dat.
Technologie klonování křivek se liší od tradičního získávání a ukládání křivek. Inteligentní technologie AD / DA (s vestavěným generátorem signálu) zpřesňuje osciloskop při opětovném zobrazení tvaru vlny a analýze tvaru vlny a analýze šumu, pokud jde o získávání shluků nebo příležitostných a spouštěcích signálů.
Inženýři mají inovativní volbu v procesu ověřování a ladění. Revoluční změna zcela řeší problémy, které tradiční digitální osciloskopy nedokážou analyzovat detailní reakce a reprodukovat průběhy.
Klonování a výstup průběhu
Záznam a přehrávání průběhu
PŘED TEST EMI
PŘED TEST EMI. Vzhledem k popularitě testu elektromagnetického rušení v moderním měření je předběžné testování obzvláště důležité. Dávno ztracené měření EMI osciloskopem je nyní zpět na trhu a probouzí touhy mnoha předchůdců tohoto odvětví. Nyní OWON nechybí ani v PRE TEST EMI a spouští spektrální analyzátor (pokračování), který využívá osciloskop k testování EMI. Jak se ale dostat ZPĚT DO ZÁKLADU? Nechte OWON probudit vaši paměť!
Osciloskop nemůže nahradit tester EMI, zejména při provádění testování shody, ale může sloužit jako dobrý nástroj pro testování EMI a rychlé ladění.
(Pokračování příště.)
NapsánoTony Yeh(OWON Senior Engineer)
